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高低温冲击试验箱用于哪些产品测试?

发布时间:2021-12 人气:11 来源:宇航志达试验装备

高低温冲击试验箱采用7寸真彩触摸屏,画面显示直观易操作,可做定值和程式控制,96组程序,每组程序3200次循环,250天历史数据保存功能。实时实验曲线分析,配备RS232,USB数据存储连接。采用伺服冷媒流量控制技术有效达到节能30%以上。实验循环进行,有效达到3天除霜一次,除霜只需2小时。具有两箱和三箱测试功能,符合测试规范。

高低温冲击试验箱适用范围及用途:

高低温冲击试验箱适用于电子电器零组件、自动化零部件、通讯组件、汽车配件、金属、化学材料、塑胶等行业,国防工业、航天、兵工业、BGA、PCB基扳、电子芯片IC、半导体陶磁及高分子材料之物理牲变化,测试其材料对高、低温的反复抵拉力及产品于热胀冷缩产出的化学变化或物理伤害,可确认产品的品质,从精密的IC到重机械的组件在测试环节都需要用到高低温冲击试验箱。

高低温冲击试验箱满足标准:

GB/T2423.1-1989低温试验方法;GB/T2423.2-1989高温试验方法;

GB/T2423.22-1989温度变化试验;GJB150.5-86温度冲击试验;

GJB360.7-87温度冲击试验;GJB367.2-87405温度冲击试验。

SJ/T10187-91Y73系列温度变化试验箱——一箱式SJ/T10186-91Y73系列温度变化试验箱——二箱式

IEC68-2-14_试验方法N_温度变化GB/T2424.13-2002试验方法温度变化试验导则

GB/T2423.22-2002温度变化QC/T17-92汽车零部件耐候性试验一般规则

EIA364-32热冲击(温度循环)测试程序的电连接器和插座的环境影响评估

高低温冲击试验箱满足标准电子电器零组件、自动化零部件、通讯组件、汽车配件、金属、化学材料、塑胶等行业,国防工业、航天、兵工业、BGA、PCB基扳、电子芯片IC、半导体陶磁及高分子材料之物理牲变化,测试其材料对高、低温的反复抵拉力及产品于热胀冷缩产出的化学变化或物理伤害从而验证产品品质。


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