可程式高低温老化试验箱结构特点

宇航志达可程式高低温老化试验箱适合电子、电器、通讯、仪表、车辆、塑胶制品、金属、食品、化学、建材、医疗、航天等制品检测质量之用。

温度范围：-20℃～150℃、-40℃～150℃、-60℃～150℃、-70℃～150℃

温度均匀度：≤±2℃  (空载时)

温度波动度：±0.5℃ (空载时)

温度偏差:≤±2℃

降温速率：1.0～1.2℃/min

升温速度：2.0～3.0℃/min

可程式高低温老化试验箱结构特点：

1.宇航可程式高低温老化试验箱箱体采用数控机床加工成型，造型美观大方，并采用无反作用把手，操作简便。

2.内箱采用进口不锈钢（SUS304）镜面板，外箱采用（SUS304）拉丝不锈钢板或冷轧钢板喷塑，增加了外观质感和洁净度。

3.设有大型观测视窗附照明灯保持箱内明亮，且利用发热体内嵌式钢化玻璃，随时清晰的观测箱内状况。

4.箱体左侧配直径25mm或50mm或100mm的测试孔，可供外接测试电源线或信号线使用。

5.保温材质采用高密度玻璃纤维棉，厚度为80mm。门与箱体之间采用双层耐高低温之高张性密封条，以确保测试区的密封。

6.设有独立限温报警系统，超过限制温度及自动中断运行，保证试验进行不发生意外。

7.加湿系统管路与控制线路板分开，可避免因加湿管路漏水发生故障。

8.水路系统管路电路系统采用门式开启，方便维护和检修。

9.温湿度循环系统:采用特制空调型低噪音长轴风扇电机，耐高低温之不锈钢多翼式叶轮,以达强度对流垂直扩散循环。门与箱体之间采用双层耐高温之高张性密封条以确保测试区的密闭。

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